Examples with "Testmustergenerators" and their translation in Engels
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Verfahren nach Anspruch 1, das weiterhin die folgenden Schritte umfasst: Bildung erwarteter Abtastausgabedaten von der Netzliste unter Verwendung eines automatischen Testmustergenerators und der Bildung eines Pseudosignals, das Vergleichsunterschiede zwischen den angezeigten simulierten Scan-Flops und den erwarteten Abtastausgabedaten grafisch darstellt.
The method of claim 1, further comprising the steps of forming expected scan output data from the netlist using an automatic test pattern generator and forming a pseudo-signal graphically displaying miscompares between the displayed simulated scan flops and the expected scan output data.
Andere resultaten
Testmustergenerator nach Anspruch 4, bei welchem der Pfad fortlaufend ist.
Der ultimative Testmustergenerator für jedes beliebige Videoformat in SD, HD und Ultra HD!
Broadcast Bridge the gap between SD, HD and Ultra HD!
Testmustergenerator nach Anspruch 6, bei welchem die Versetzungen um Unter-Pixel-Intervalle bzw. Intervalle, die kleiner als ein Pixel sind, variieren.
A test pattern generator according to Claim 6, wherein said displacements vary by sub pixel intervals.
Die Vorrichtung nach Anspruch 2, wobei der Periödenfeinabstimmungs-Testmustergenerator (320) so programmierbar ist, daß er Ereignisse in einer Masterperiode platziert.
Testmustergenerator nach Anspruch 1, bei welchem das Steuermittel angepasst ist, um Anzeigestellen bzw. Anzeigeorte auszuwählen, bei denen eine bzw. einer vom nächsten um Pixel-Versetzungen versetzt sind, um so eine Bewegung des Vordergrundbildes entlang eines Pfades relativ zu dem Hintergrundbild zu simulieren.
A test pattern generator according to Claim 1, wherein said control means is adapted to select display locations displaced one from the next by pixel displacements such as to simulate movement of the foreground image along a path relative to the background image.
Testmustergenerator nach Anspruch 2, bei welchem das Steuermittel dem Bediener eine Auswahl eines NTSC-Telecine-Modus bzw. eines NTSC-Filmscanner-Modus ermöglicht, bei dem die Anzeigestelle bzw. der Anzeigeort sich mit alternierenden Intervallen von drei Feldern und zwei Feldern ändert.
A test pattern generator according to Claim 2, wherein said control means enables operator selection of an NTSC telecine mode in which the display location changes at alternating intervals of three fields and two fields.
Programmierbarer Video-Testmustergenerator für Anzeigesysteme.
Die Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei sowohl der Periodenfeinabstimmungs-Testmustergenerator (320) als auch der Phasenverriegelungsschleifentaktgeber (360) so programmierbar sind, daß sie entsprechende Testmustersignale und Testtaktsignale für verschiedene Arten von zu testenden Bauelementen erzeugen.
The apparatus of claim 1 wherein each of the period vernier test pattern generator (320) and the phase-locked-loop clock (360) is programmable to generate corresponding test pattern signals and test clock signals for different types of devices to be tested.
Die Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Periodenfeinabstimmungs-Testmustergenerator (320) einen globalen Sequenzierer (412) und einen oder mehrere lokale Sequenzierer (420) aufweist.
The apparatus of claim 1 wherein the period vernier test pattern generator (320) comprises a global sequencer (412) and one or more local sequencers (420).
Die Vorrichtung nach Anspruch 1, ferner aufweisend ein Masterzeitgabereferenzsignal, das sowohl zu dem Periodenfeinabstimmungs-Testmustergenerator (320) als auch dem Phasenverriegelungsschleifentaktgeber (360) geliefert wird.
The apparatus of claim 1 further comprising a master timing reference signal supplied to each of the period vernier test pattern generator (320) and the phase-locked-loop clock (360).
Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, die ferner einen Testmustergenerator (614,815, 1117) umfasst, zum Generieren eines Testmusters und Eingeben des Testmusters zusammen mit der Schreibadresse in die Speichervorrichtung (621,821, 1121).
The semiconductor device of claim 1 or 2, further comprising a test pattern generator (614,815,1117) for generating a test pattern and inputting said test pattern together with said write address to said storage device (621,821,1121).
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