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first test pattern
System nach Anspruch 7, wobei die Bits des ersten Testmusters und des zweiten Testmusters parallel über eine Mehrzahl von Signalleitungen gesendet werden.
The system as recited in claim 7, wherein said bits of said first test pattern and said second test pattern are transmitted in parallel across a plurality of signal lines.
Aufzeichnungsverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei das erste und das zweite Testmuster in der Hauptabtastrichtung als linienartige Muster aufgezeichnet werden, und wobei das zweite Testmuster zwischen aufeinanderfolgenden Aufzeichnungen des ersten Testmusters aufgezeichnet wird.
A recording method as set forth in any of claims 1 to 4, wherein the first and second test patterns are recorded as line-like patterns in the main scan direction and the second test pattern is recorded between successive recordings of the first test pattern.
Verfahren nach Anspruch 1, wobei: der Schritt des Schickens das Schicken aufeinanderfolgender Bits des ersten Testmusters, die identisch sind, an zumindest eine Multiplexer-Schaltung (3) umfaßt, die eine andere als die eine oder mehrere erste Multiplexer-Schaltungen (3) ist.
The method of claim 1, wherein: the step of sending comprises sending, to at least one multiplexer circuit (3) other than the one or more first multiplexer circuits (3), successive bits of the first test pattern that are identical.
Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, wobei das erste Testmuster in den Boundary-Scan-Schieberegisterelementen nach dem parallelen Laden des ersten Testmusters in die Boundary-Scan-Schieberegisterelemente verschoben wird, um das zweite Testmuster zu erzeugen.
A method as defined in claim 1 or 2, wherein said first test pattern is shifted within said boundary scan shift register elements after parallel loading said first test pattern into said boundary scan shift register elements to produce said second test pattern.
Verfahren nach Anspruch 23, wobei individuelle Datenbits der Mehrzahl von Datenbits während einer Übertragung des ersten Testmusters und des zweiten Testmusters maskiert werden.
The method as recited in claim 23, wherein individual data bits of said plurality of data bits are masked during a transmission of said first test patterns and said second test patterns.
Erstaunlicherweise konnten wir mit 4 Stunden und 37 Minuten das Ergebnis unseres ersten Testmusters um mehr als 50 Prozent übertreffen - womöglich verfälschten bei diesem Probleme mit Optimus, der automatischen Umschaltung zwischen beiden Notebook nach spätestens 1 Stunde und 12 Minuten die Puste aus.
Amazingly, with a time of 4 hours and 37 minutes, this model outdoes the previous version by over 50% - wherein reason for these measurements may rest somewhat on Optimus, the automatic switching between two graphics cards.
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