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atomic force
Vertaling van "atomic force" in Duits
It is a new generation microscope that integrates capabilities of atomic force and optical microscopes.
Es ist ein Mikroskop der neuen Generation, das Fähigkeiten der Atomkraft und der optischen Mikroskope integriert.
In the last few years, such atomic sensors have also proven useful for work with atomic force microscopes.
Derartige atomare Sensoren haben sich in den letzten Jahren auch für die Arbeit mit Rasterkraftmikroskopen bewährt.
They can be used to measure the size and direction of forces in atomic force microscopes.
In Rasterkraftmikroskopen können sie für die Erfassung der Grösse und Richtung von Kräften genutzt werden.
Automated atomic force profiling for chemical mechanical planarization and etch metrology at 65nm.
Automatisiertes Atomkraft-Profiling für chemisch-mechanisches Planarisieren und Ätztiefenmessung bei 65 nm.
In addition, the company supplies silicon tips for atomic force microscopes, a key tool for the mechanical scanning of surfaces and for measuring atomic forces in the nanometer scale.
Zudem liefert das Unternehmen Silizium-Messspitzen für Rasterkraftmikroskope, eines der Schlüsselwerkzeuge zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und zur Messung atomarer Kräfte im Nanometer-Maßstab.
All users of atomic force microscopes, nanomechanical test instrumentation, and complementary nanomeasurement techniques and technologies are encouraged to submit paper and poster abstracts.
Benutzer von Atomkraftmikroskopen, nanomechanical Prüfungsinstrumentierung und alle ergänzenden nanomeasurement Techniken und Technologien werden angeregt, Zusammenfassungen des ursprünglichen Papiers und des Plakats einzugeben.
The detail in atomic force images is unrivalled by other microscopy techniques that can be used to image samples in fluid, due to the signal to noise ratio of the instrument.
Das Sonderkommando in den Atomkraftbildern ist durch andere Mikroskopietechniken konkurrenzlos, die an Bildproben in der Flüssigkeit sein können, wegen des Signals zur Rauschzahl des Instrumentes.
The emergence of digital imaging technologies that provide access to photons from the edge of the universe and the atomic force that binds molecules offer us a whole new vocabulary for articulating the world.
Das Aufkommen digitaler bildgebender Verfahren, die uns den Zugang zu Photonen am Rand unseres Universums oder zu den atomaren Kräften verschaffen, die die Moleküle zusammenhalten, liefert uns ein vollkommen neues Vokabular für die Artikulation der Welt.
Ztherm is an atomic force microscope-based technique which measures temperature-dependent mechanical properties of the sample with 10nm spatial resolution, in addition to mapping surface topography.
Ztherm ist eine Mikroskop-basierte Technik der Atomkraft, die Temperatur-abhängige mechanische Eigenschaften der Probe mit Ortsauflösung 10nm misst, zusätzlich zum Abbilden der Oberflächentopographie.
He developed near-field microwave microscopy (scanning microwave impedance microscopy) based on atomic force microscopes for studies on mesoscopic length scales, e.g. nanostructured materials.
Er entwickelte Nahfeld-Mikrowellen-Mikroskopie (Scanning Microwave Impedance Microscopy) basierend auf Rasterkraftmikroskopen für Studien auf mesoskopischer Längenskala zum Beispiel von nanostrukturierten Materialien.
A method according to claim 7, wherein said at least one atomic force field descriptor comprises at least one selected from the group consisting of: atom type, charge and polarizability.
Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass der mindestens eine Deskriptor eines atomaren Kraftfelds mindestens eines gewählt aus der Gruppe bestehend aus Atomtyp, Ladung und Polarisierbarkeit umfasst.
Apparatus according to any one of claims 1 to 9, wherein the or each probe means is a magnetic sensor, a capacitance probe, an atomic force probe, a piezoelectric sensor or an acoustic microphone.
Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 9, wobei das oder jedes Prüfmittel ein magnetischer Sensor ist, ein kapazitiver Prüfkopf, ein Atomkraft-Prüfkopf, ein piezoelektrischer Sensor oder ein akustisches Mikrofon.
The method of claim 1, wherein the substrate and the attached layer generate a signal and said signal is analyzed by an instrument selected from the group consisting of profilometers, reflectometers, scanning tunneling microscopes, atomic force microscopes, or interferometers.
Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Substrat und die anhaftende Schicht ein Signal erzeugen und dieses Signal durch ein Instrument analysiert wird, das gewählt ist aus der Gruppe, bestehend aus Profiltastschnittgeräten, Reflexionsmessern, Raster-Tunnelmikroskopen, Atomkraftmikroskopen oder Interferometern.
Synoniemen voor atomic force in het Engels
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