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ersten Testmusters
erste Testmuster
The system as recited in claim 7, wherein said bits of said first test pattern and said second test pattern are transmitted in parallel across a plurality of signal lines.
System nach Anspruch 7, wobei die Bits des ersten Testmusters und des zweiten Testmusters parallel über eine Mehrzahl von Signalleitungen gesendet werden.
A recording method as set forth in any of claims 1 to 4, wherein the first and second test patterns are recorded as line-like patterns in the main scan direction and the second test pattern is recorded between successive recordings of the first test pattern.
Aufzeichnungsverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei das erste und das zweite Testmuster in der Hauptabtastrichtung als linienartige Muster aufgezeichnet werden, und wobei das zweite Testmuster zwischen aufeinanderfolgenden Aufzeichnungen des ersten Testmusters aufgezeichnet wird.
The system as recited in claim 11, wherein said master chip is configured to drive said first test pattern in response to a power-on reset.
System nach Anspruch 11, wobei der Masterchip so ausgestaltet ist, daß er das erste Testmuster in Reaktion auf ein Zurücksetzen beim Einschalten (power-on reset) abgibt.
The system as recited in any of claims 1 to 10, wherein said master chip is configured to drive said first test pattern upon initial power-up of said computer system.
System nach einem der Ansprüche 1 bis 10, wobei der Masterchip dafür ausgelegt ist, das erste Testmuster beim anfänglichen Einschalten des Computersystems abzugeben.
The method of claim 1, wherein: the step of sending comprises sending, to at least one multiplexer circuit (3) other than the one or more first multiplexer circuits (3), successive bits of the first test pattern that are identical.
Verfahren nach Anspruch 1, wobei: der Schritt des Schickens das Schicken aufeinanderfolgender Bits des ersten Testmusters, die identisch sind, an zumindest eine Multiplexer-Schaltung (3) umfaßt, die eine andere als die eine oder mehrere erste Multiplexer-Schaltungen (3) ist.
A method as defined in claim 1 or 2, wherein said first test pattern is shifted within said boundary scan shift register elements after parallel loading said first test pattern into said boundary scan shift register elements to produce said second test pattern.
Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, wobei das erste Testmuster in den Boundary-Scan-Schieberegisterelementen nach dem parallelen Laden des ersten Testmusters in die Boundary-Scan-Schieberegisterelemente verschoben wird, um das zweite Testmuster zu erzeugen.
Method according to Patent Claim 1, characterized in that the same permanently prescribed bit pattern is used as the first test pattern for every smallest addressable unit of the storage medium.
Verfahren nach Patentanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als erstes Testmuster für jede kleinste adressierbare Einheit des Speichermediums das gleiche fest vorgegebene Bitmuster verwendet wird.
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