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generating a test pattern
Examples with "generating a test pattern" and their translation in Duits
The method for generating a test pattern for use with a scan circuit according to claim 1, wherein said scan circuit comprises all scan registers (16) in said memory element (15).
Verfahren zum Erzeugen eines Testmusters zur Verwendung mit einer Abtastschaltung nach Anspruch 1, wobei die Abtastschaltung sämtliche Abtastregister (16) in dem Speicherelement (15) aufweist.
Method of generating a test pattern for the simulation and/or test of the layout of an integrated circuit
Verfahren zur Erzeugung eines Testmusters für die Simulation und/oder Prüfung des Layouts einer integrierten Schaltung
The semiconductor device of claim 1 or 2, further comprising a test pattern generator (614,815,1117) for generating a test pattern and inputting said test pattern together with said write address to said storage device (621,821,1121).
Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, die ferner einen Testmustergenerator (614,815, 1117) umfasst, zum Generieren eines Testmusters und Eingeben des Testmusters zusammen mit der Schreibadresse in die Speichervorrichtung (621,821, 1121).
Circuit according to Patent Claim 1 or 2, characterized in that the structural test device (ST) has a test pattern generator for generating a test pattern in the form of pseudo-random vectors.
Schaltung nach Patentanspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die strukturelle Testeinrichtung (ST) einen Testmuster-Generator zum Erzeugen eines Testmusters in Form von Pseudo-Zufallsvektoren aufweist.
The contact areas (105) for the testing method are connected to the inputs (110) of the driver circuit as well and are used for generating a test pattern.
Diese Kontaktflächen für das Testverfahren sind ebenfalls mit den Eingängen (110) der Treiberschaltung verbunden und werden für die Erzeugung eines Testmusters genutzt.
A display system according to any preceding claim, wherein said means operable during a calibration mode for generating a test pattern includes a test pattern generator (14) including a memory (22) having stored therein data representing said test pattern.
Anzeigesystem nach einem vorhergehenden Anspruch, wobei das Mittel, das während eines Kalibrierungsmodus arbeitet, um ein Testmuster zu erzeugen, einen Testmustergenerator (14) umfaßt, der einen Speicher (22) mit darin abgespeicherten das Testmuster repräsentierenden Daten aufweist.
Andere resultaten
Another method used for the geometric calibration of CCD cameras (DE 19727281 C1) a coherent light source and a synthetic hologram for generating a well-defined test pattern f (x, y, z) as Kalibrierungsmaß the 3D measurement system.
Ein weiteres Verfahren verwendet zur geometrischen Kalibrierung von CCD-Kameras (DE 19727281 C1) eine kohärente Lichtquelle und ein synthetisches Hologramm zur Erzeugung einer wohldefinierten Teststruktur f(x, y, z) als Kalibrierungsmaß des 3D-Meßsystems.
The method of claim 18 wherein generating a phase-matched test clock signal further comprises generating the test pattern signals and the test clock signal based on a common master clock reference.
Das Verfahren nach Anspruch 18, wobei das Erzeugen eines phasenabgeglichenen Testtaktsignals ferner ein Erzeugen der Testmustersignale und des Testtaktsignals auf der Grundlage einer gemeinsamen Mastertaktreferenz umfaßt.
Method and apparatus for generating television test patterns.
Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung von Fernsehprüfmustern.
Apparatus for generating test pattern for sequential logic circuit of integrated circuit and method thereof.
Prüfmustererzeugungseinrichtung für sequentielle Logikschaltung einer integrierten Schaltung und Verfahren dazu.
By generating test patterns as required, under the control of a high-level XJEase program, you can use XJTAG to easily develop complex tests not possible with many other JTAG solutions.
Durch die Erstellung von Testmustern nach Bedarf, unter der Kontrolle des High-Level XJEase-Programms, können Sie mit XJTAG problemlos komplexe Tests entwickeln, die mit vielen anderen JTAG-Lösungen nicht möglich wären.
The pattern generator according to claim 2, wherein the data development section (170) executes one of the scan sequence block multiple times in generating one of the test pattern.
Mustergenerator nach Anspruch 2, bei dem die Datenentwicklungsschaltung (170) einen der Abtastsequenzblöcke mehrere Male bei der Erzeugung eines der Prüfmuster ausführt.
Process according to Claim 3, in which an LFSR of such a width that the test patterns are different during the m test cycles is used for generating the pseudorandom test patterns.
Verfahren nach Anspruch 3, bei dem zur Erzeugung der Pseudorandom-Testmuster ein LFSR verwendet wird von solcher Breite, daß während der m Testzyklen die Testmuster unterschiedlich sind.
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