Examples with "ToF-SIMS data" and their translation in Duits
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By comparing the positive-ion ToF-SIMS data from each of the ppNIPAM post-protein adsorption surfaces to that of ppNIPAM post-cell liftoff, we find that ppNIPAM post-cell liftoff surfaces are distinctly separate from fibronectin (FN).
Durch den Vergleich positiv-Ionen ToF-SIMS aus jeder der PpNIPAM post-protein Adsorption Flächen zu Daten, die von PpNIPAM post-cell abheben, finden wir, dass PpNIPAM post-cell abheben Flächen deutlich von Fibronektin (FN) getrennt sind.
The suitability of ToF-SIMS for the successful detection of nanomaterials in bio-logical tissue is demonstrated by means of correlations and cross-validations of ToF-SIMS data with the results of reference techniques.
Die Eignung der ToF-SIMS für die erfolgreiche Erkennung von NP in biologischem Gewebe wird durch Korrelationen und Kreuzvalidierungen von ToF-SIMS-Daten mit den Ergebnissen von Referenztechniken demonstriert.
Designed for flat samples, the TOF-SIMS data interpretation for the first time was adapted to rough surfaces with model calculations that were experimentally tested with stratospheric Al2O3 spheres.
Obwohl TOF-SIMS eigentlich flache Proben voraussetzt, konnte diese Technik mit Hilfe von Modellrechnungen nun auch auf raue Oberflächen angewandt werden. Das Modell wurde an stratosphärischen Al2O3-Kügelchen erfolgreich überprüft.
Andere resultaten
The information is generated from data resulting from the combination of Vertical Scanning Interferometry, Atomic Force Microscopy and ToF-SIMS.
Die Informationen werden aus den Daten generiert, die sich aus der Kombination von Vertical Scanning Interferometry, Atomic Force Microscopy und ToF-SIMS ergeben.
03-2019-IMT PhD Position: Characterization of surfaces at the micro and nanoscale, using correlated data from vertical scanning interferometry, atomic force microscopy, and ToF-SIMS Job description
03-2019- IMT Doktorandenstelle zum Thema "Charakterisierung von Oberflächen im Mikro- und Nanobereich unter Verwendung korrelierter Daten aus der Vertikal-Scanning-Interferometrie, der Rasterkraftmikroskopie und von ToF-SIMS"
The data out of spectra of lubricants on hard disk surfaces generated by Time of Flight-Secondary Ion mass Spectrometry (TOF-SIMS) were analyzed with statistical approaches.
Die in den Flugzeit-Sekundärionenmassenspektren (ToF-SIMS) von perfluorierten Polyethern („Lubrikants") enthaltenen Daten und Informationen werden mit Hilfe multivariater Verfahren analysiert.
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