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test bit patterns
Examples with "test bit patterns" and their translation in Duits
CIRCUIT ARRANGEMENT FOR TESTING A SEMICONDUCTOR STORE BY MEANS OF PARALLEL TESTS WITH DIFFERENT TEST BIT PATTERNS
SCHALTUNGSANORDNUNG ZUM TESTEN EINES HALBLEITERSPEICHERS MITTELS PARALLELTESTS MIT VERSCHIEDENEN TESTBITMUSTERN
Testing is done by comparing test bit patterns supplied via the input-end test multiplex line to the voice memory with the corresponding test bit patterns read out of the voice memory and passing to it via the output-end test multiplex line.
Die Prüfung erfolgt durch Vergleich von über die eingangsseitige Prüfmultiplexleitung an den Sprachspeicher gelieferten Prüfbitmustern mit den entsprechenden auf dem Sprachspeicher ausgelesenen und über die ausgangsseitige Prüfmultiplexleitung an sie gelangenden Prüfbitmustern.
Device (9) according to Claim 6, characterised in that only non-balanced bit patterns are applied to the output unit (9) and check-read as test bit patterns.
Vorrichtung (9) nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß nur die nicht bilanzierten Bitmuster als Test-Bitmuster der Ausgabeeinheit (9) aufschaltbar und prüflesbar sind.
This utility will write test bit patterns to the adapter's FIFO buffers, to make sure the FIFOs are working properly.
Dieses Dienstprogramm schreibt Test-Bitmuster in die FIFO-Puffer (First In First Out = Bearbeitung nach Reihenfolge) des Adapters, um sicherzustellen, dass diese ordnungsgemäß funktionieren.
Andere resultaten
A method according to claim 12, characterized by sensing, in the outgoing data flow, the test bit pattern during determined sections of the data flow.
Ein Verfahren nach Anspruch 12, gekennzeichnet durch Abtasten des Prüf-Bit-Musters in dem ausgehenden Datenstrom während festgelegter Abschnitte des Datenstroms.
Method as claimed in claim 10, characterised in that the test signal consists of a part of the test bit pattern which is formed in the work station and is periodically run through.
Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Testsignal aus einem in der Arbeitsstation gebildeten Teil des Test-Bitmusters besteht, das periodisch durchlaufen wird.
The communication system of Claim 1, wherein the test bit pattern vector and the sample vector of bits both change for each of the number of comparisons.
Kommunikationssystem nach Anspruch 1, bei dem sich sowohl der Test-Bitmuster-Vektor als auch der Abtastvektor aus Bits bei jedem der Anzahl von Vergleichen ändern.
The electronic camera of any preceding claim, wherein the test bits define a pixel pattern weighted towards the center of a video field.
Elektronische Kamera nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Prüfbit ein in Richtung der Mitte eines Videofelds gewichtetes Bildelementmuster definieren.
The communication system of Claim 4 wherein, for the except one of the comparisons, the bits in the bit test pattern vector match the bits in the synchronization word bits.
Kommunikationssystem nach Anspruch 4, bei dem in dem die Ausnahme bildenden Vergleich die Bits in dem Bit-Testmuster-Vektor mit den Bits in den Synchronisationswort-Bits übereinstimmen.
The communication system of Claim 1, wherein for each successive number of comparisons the bit test pattern comprises an increasing number of preamble prefix bits until the bit test pattern vector matches the sample vector.
Kommunikationssystem nach Anspruch 1, bei dem das Bit-Testmuster für jede sukzessive Anzahl von Vergleichen eine wachsende Anzahl von Präambelpräfix-Bits enthält, bis der Bit-Testmuster-Vektor mit dem Abtastvektor übereinstimmt.
The method of Claim 18 wherein the performing step comprises, for the except one of the comparisons, performing the one comparison such that the bits in the bit test pattern vector match the bits in the synchronization word bits.
Verfahren nach Anspruch 18, bei dem der Ausführungsschritt für den die Ausnahme bildenden Vergleich das Ausführen des Vergleichs in der Weise, dass die Bits in dem Bit-Testmuster-Vektor mit den Bits in den Synchronisationswort-Bits übereinstimmen, umfasst.
The test system (10, 25) of any of Claims 8 to 10 wherein said bit error test patterns conform to a SDH frame.
Testsystem (10, 25) nach einem der Ansprüche 8 bis 10, wobei die Bitfehler-Testmuster einem SDH-Rahmen entsprechen.
Users can apply any amount of peak pseudo-random jitter needed to their bit patterns which can reduce test times.
Benutzer können eine beliebige Menge an pseudo-zufälligem Jitter auf ihre Bit-Muster anwenden, wodurch die Testdauer verkürzt werden kann.
Synoniemen voor test bit patterns in het Engels
Woord & uitdrukking van de dag
Afbeelding van de dag
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