A circuit for filtering single event effect (SEE) induced glitches is disclosed.
L'invention concerne un circuit permettant de filtrer les pointes de tension induites par les perturbations isolées (SEU).
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices EN-FR IEC PAS 62162:2000
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 44: Méthode d'essai des effets d'un événement isolé (SEE) irradié par un faisceau de neutrons pour des dispositifs à semiconducteurs
The effect of a single particle is identified as a single event effect (SEE).
Andere resultaten
The device is ionizing radiation tolerant and immune to single event effects.
Method for mitigating single event effects in a phase locked loop
These identified "Single-Event Effects" are likely to affect the proper functioning of highly scaled silicon technologies up to terrestrial ground level altitudes.
Ces "effets singuliers" identifiés sont susceptibles d'altérer le bon fonctionnement des technologies sur silicium fortement intégrées jusqu'au niveau du sol terrestre.
an apparatus and method for hardening a circuit against a single-event effect condition is provided
In single event effects (SEE) damage results from a single ionising particle that traverses a microelectronic device.
Les dommages appelés single event effects (SEE) sont produits par une seule particule ionisante qui traverse un dispositif micro-électronique.
OMERE computes the space environment in terms of particle fluxes and radiation effects on electronic devices in terms of dose, displacement damage, single event effects and solar cell degradation.
OMERE calcule l'environnement spatial et les effets des radiations sur l'électronique en termes de dose, de déplacement atomique, d'effet singulier et de dégradation des cellules solaires.
Single event effects have been tested on the same samples using protons and heavy ions providing evidence that no ruptures occurred even at the highest energy available on the beam line (Xenon ions).
Des effets ponctuels ont été testés sur ces mêmes échantillons en utilisant des protons et des ions lourds, montrant qu'aucune rupture ne survenait, même au plus haut niveau d'énergie disponible sur la ligne de faisceau (ions de xénon).
As with all semiconductor devices, FPGAs could be vulnerable to radiation-induced failures, known as single-event effects (SEEs), especially during accident scenarios.
À l'instar de tout dispositif à semiconducteur, les FPGA pourraient être vulnérables aux défaillances induites par le rayonnement, appelées perturbations par une particule isolée (SEE), notamment au cours de scénarios d'accident.
The delayed clock signal and inverted delayed clock signal can be delayed by the known duration of single event effects (SEE).
Les signaux d'horloge retardés et retardés et inversés peuvent être retardés par la durée connue des seuls effets d'événements (SEE).
However, the challenge that must be tackled during system design is their high susceptibility to the radiation induced faults such as Single Event Effects (SEEs).
Toutefois, leur grande sensibilité aux défauts dus aux rayonnements électromagnétiques tels que les "Single Event Effets" (SEE), est un défi qui doit être abordé pendant la conception du système.