This definition permits the UPS output greater than 100000 W to be backfed into the input ac supply when in test-mode and subject to local regulations.
Cette définition permet à la sortie de l'ASI supérieure à 100000 W, en mode d'essai et soumise à la réglementation locale, d'être injectée dans l'alimentation d'entrée en courant alternatif.
[Problem] In a semiconductor device, to inhibit a reduction in operating speed in a normal mode by using a test-mode circuit.
Le problème décrit par l'invention est d'empêcher une réduction de la vitesse de fonctionnement dans un mode normal par utilisation d'un circuit de mode test dans un dispositif à semi-conducteurs.
The specific sequence of test-mode commands (303,304) is supplied to selectively put the memory device in one of a plurality of test modes.
Cette séquence spécifique de commandes de mode d'essai (303,304) sert à mettre sélectivement le dispositif mémoire dans un parmi plusieurs modes d'essai.
and a test-mode setting circuit that is configured to change the redundant address allocated to the redundant element by changing the changeover signal according to the input from the outside.
et un circuit de réglage de mode de test conçu pour changer l'adresse redondante allouée à l'élément redondant par changement du signal de transfert conformément à l'entrée provenant de l'extérieur.
The Test-Mode Browser is now officially out of beta.
Le navigateur en mode test est à présent officiellement sorti de la phase bêta.
The high voltage pin serves as an enable signal input to a test-mode command decoder (202) to enable it for receiving and recognizing a specific sequence of test-mode commands (303,304).
La broche haute tension sert d'entrée de signal de validation pour un décodeur à commande de mode d'essai (202) afin de lui permettre de recevoir et de reconnaître une séquence spécifique de commandes de mode d'essai (303,304).
a circuit for generating test-mode signals for memory which uses both hardware and software protection schemes
un circuit générant des signaux de mode de test destinés à une mémoire faisant appel à des systèmes de protection tant au niveau des appareils que des logiciels