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the diffracting structures
Examples with "the diffracting structures" and their translation in Frans
different radiation parameters such as the reflectivities rs, rp and ellipsometric parameters may be used in measuring the diffracting structures and the associated films
différents paramètres de rayonnement, tels que lés réflectivités rs, rp et des paramètres ellipsométriques peuvent être utilisés afin de mesurer les structures de diffraction et les films associés
Andere resultaten
A rigorous model is then used to calculate intensity or ellipsometric signatures of the diffracting structure.
Puis on utilise un modèle rigoureux pour calculer l'intensité ou les signatures ellipsométriques de la structure diffractante.
The method involves computing background electric or magnetic fields of an environment of the diffracting structure.
Le procédé consiste à calculer des champs électriques ou magnétiques de fond d'un environnement de la structure de diffraction.
In one embodiment, a method for evaluating a diffracting structure involves providing a model of the diffracting structure.
Dans un mode de réalisation, un procédé pour évaluer une structure de diffraction consiste à fournir un modèle de la structure de diffraction.
In response to a good model fit, the method involves determining a physical characteristic of the diffracting structure based on the model of the diffracting structure.
En réponse à une bonne adaptation du modèle, le procédé consiste à déterminer une caractéristique physique de la structure de diffraction sur la base du modèle de la structure de diffraction.
The method involves computing scattered electric or magnetic fields from the diffracting structure using a scattered field formulation based on the computed background fields.
Le procédé consiste à calculer des champs électriques ou magnétiques dispersés à partir de la structure de diffraction à l'aide d'une formulation de champs dispersés basée sur les champs de fond calculés.
The diffracting structure is then measured using a spectroscopic scatterometer using polarized and broadband radiation to obtain an intensity or ellipsometric signature of the diffracting structure.
On mesure ensuite la structure diffractante au moyen d'un diffusiomètre spectroscopique et d'un rayonnement large-bande et polarisé de manière à obtenir une intensité ou une signature ellipsométrique de la structure diffractante.
by means of the diffracting structure, the lightwave field varied by the light modulator can be diffracted in a variable and predeterminable manner
le champ d'ondes lumineuses modifié par le modulateur de lumière peut être diffracté de façon variable et de manière prédéterminable grâce à ladite structure de diffraction
The method further involves computing spectral information for the model of the diffracting structure based on the computed scattered fields, and comparing the computed spectral information for the model with measured spectral information for the diffracting structure.
This thesis is a prospective study because the periodicity or the pattern of the registered diffracting structures has not been defined for a specific application.
Cette thèse est une étude prospective car la périodicité ou le motif des structures diffractantes inscrites n'ont pas été définis pour une application spécifique.
The first and second diffracting structures focus the first and second light beams in the same focussing plane, the focussing plane being substantially perpendicular to propagation directions of the first and second light beams.
Ces première et seconde structure de diffraction concentrent lesdits premier et second faisceau lumineux dans le même plan de focalisation, ce plan de focalisation étant sensiblement perpendiculaire aux directions de propagation des premier et second faisceau lumineux.
Before the diffraction from a diffracting structure on a semiconductor wafer is measured, where necessary, the film thickness and index of refraction of the films underneath the structure are first measured using spectroscopic reflectometry or spectroscopic ellipsometry.
Avant de mesurer la diffraction d'une structure diffractante sur une plaquette de semi-conducteur, on mesure si nécessaire dans un premier temps l'épaisseur du film et l'indice de réfraction des films sous-jacents à la structure par réflectométrie spectroscopique ou ellipsométrie spectroscopique.
A diffraction grating is supported at an opposing end of the structure for diffracting the optical signals from the optical component.
Un réseau de diffraction supporté à l'extrémité opposée de la structure permet de diffracter les signaux optiques en provenance du composant optique.
Synoniemen voor the diffracting structures in het Engels
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