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the first test pattern
Examples with "the first test pattern" and their translation in Duits
Here's the result of the first test pattern.
Hier das Ergebnis der ersten Testanleitung.
A recording method as set forth in any of claims 1 to 4, wherein the first and second test patterns are recorded as line-like patterns in the main scan direction and the second test pattern is recorded between successive recordings of the first test pattern.
Aufzeichnungsverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei das erste und das zweite Testmuster in der Hauptabtastrichtung als linienartige Muster aufgezeichnet werden, und wobei das zweite Testmuster zwischen aufeinanderfolgenden Aufzeichnungen des ersten Testmusters aufgezeichnet wird.
The method of claim 1, wherein: the step of sending comprises sending, to at least one multiplexer circuit (3) other than the one or more first multiplexer circuits (3), successive bits of the first test pattern that are identical.
Verfahren nach Anspruch 1, wobei: der Schritt des Schickens das Schicken aufeinanderfolgender Bits des ersten Testmusters, die identisch sind, an zumindest eine Multiplexer-Schaltung (3) umfaßt, die eine andere als die eine oder mehrere erste Multiplexer-Schaltungen (3) ist.
Method according to Patent Claim 1, characterized in that the same permanently prescribed bit pattern is used as the first test pattern for every smallest addressable unit of the storage medium.
Verfahren nach Patentanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als erstes Testmuster für jede kleinste adressierbare Einheit des Speichermediums das gleiche fest vorgegebene Bitmuster verwendet wird.
Andere resultaten
When the fixed test pattern is detected for the first time, the test-pattern sequence is evaluated in the course of a test cycle with regard to faultless transmission.
Mit dem erstmaligen Erkennen des festgelegten Prüfmusters erfolgt im Zuge eines Prüfzyklus eine Auswertung der Prüfmuster-Folge hinsichtlich einer fehlerfreien Übertragung.
A table in which the dependence of the ratios of the area coverages of the first and second test patterns is entered against the dot sizes is used for this purpose, for example.
Dazu wird z.B. eine Tabelle verwendet, in der die Abhängigkeit der Verhältnisse der Flächendeckungen des ersten und zweiten Testmusters über die Punktgrößen eingetragen ist.
A recording method as set forth in claim 1, wherein the first and second test patterns are recorded as line-like patterns in the main scan direction.
Aufzeichnungsverfahren nach Anspruch 1, wobei das erste und das zweite Testmuster in der Hauptabtastrichtung als linienartige Muster aufgezeichnet werden.
RCA demonstrated an all-electronic television system at the 1939 New York World's Fair, and developed the USA's first television test pattern.
1939 stellte RCA ein 441-zeiliges Fernsehsystem auf der New Yorker Weltausstellung vor.
Method according to Claim 2, characterized in that different first test patterns are used for successive tests.
Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß für aufeinanderfolgende Tests verschiedene erste Testmuster verwendet werden.
The system as recited in claim 11, wherein said master chip is configured to drive said first test pattern in response to a power-on reset.
System nach Anspruch 11, wobei der Masterchip so ausgestaltet ist, daß er das erste Testmuster in Reaktion auf ein Zurücksetzen beim Einschalten (power-on reset) abgibt.
The system as recited in claim 7, wherein said bits of said first test pattern and said second test pattern are transmitted in parallel across a plurality of signal lines.
System nach Anspruch 7, wobei die Bits des ersten Testmusters und des zweiten Testmusters parallel über eine Mehrzahl von Signalleitungen gesendet werden.
The system as recited in any of claims 1 to 10, wherein said master chip is configured to drive said first test pattern upon initial power-up of said computer system.
System nach einem der Ansprüche 1 bis 10, wobei der Masterchip dafür ausgelegt ist, das erste Testmuster beim anfänglichen Einschalten des Computersystems abzugeben.
The method as recited in claim 22, wherein said first test patterns and said second test patterns include a plurality of transitions between a logic high voltage and a logic low voltage.
Verfahren nach Anspruch 22, wobei die ersten Testmuster und die zweiten Testmuster eine Mehrzahl von Übergängen zwischen einer logisch hohen Spannung und einer logisch niedrigen Spannung aufweisen.
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